05 березня 2019 року о 14.30
на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 26.002.18 КПІ ім. Ігоря Сікорського
відбудеться захист дисертації Бондаренка Максима Олексійовича
на тему: “Розвиток методів та засобів атомно-силової мікроскопії для неруйнівного контролю характеристик компонентів мікросистемної техніки”
за спеціальністю 05.11.13 – прилади і методи контролю та визначення складу речовин
на здобуття наукового ступеня доктора технічних наук
(адреса: просп. Перемоги, 37, корп. 1, ауд. 293)
Текст дисертації Бондаренка М.О.
| Причіплений файл | Розмір |
|---|---|
 Автореферат Бондаренка М.О. | 1.09 МБ |
| Вiдгук офiцiйного опонента д.т.н. Шевченка О.I. | 188.47 КБ |
| Відгук офіційного опонента д.т.н. Кваснікова В.П. | 232.42 КБ |
| Відгук офіційного опонента д.т.н. Петренка С.Ф. | 134.44 КБ |