18 лютого 2013 року о 15.00
на засіданні спеціалізованої вченої ради К 26.002.20 НТУУ “КПІ” відбудеться захист дисертації Шенгур Світлани Віталіївни
“Методи та засоби оцінювання точності вимірювань характеристик випадкових кутів”
за спеціальністю 05.01.02 – стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук
(адреса: просп. Перемоги, 37, корп. 22, ауд. 316)